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NI模块扩展PXI平台的功能，降低半导体研究分析和测试的成本

http://cn.newmaker.com 9/8/2011 8:17:00 PM 佳工机电网

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展厅 6	电子测量仪器展厅万用表, 示波器, 电子测试仪器, 信号发生器, 信号分析仪, ...

——每个引脚数字参数测量和高密度的源测量单元模块都是半导体研究、测试的理想选择

2011年8月——美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）扩展其PXI平台的功能，通过新发布的每个引脚参数测量单元模块(PPMU)和源测量单元模块（SMU）用于半导体的特性描述和生产测试。NI PXIe-6556 200 MHz高速数字I / O具备PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低资本设备成本，缩短测试时间，并提升各种测试设备的混合信号灵活性。

使用NI PXIe-6556高速数字I / O模块，工程师可以产生和获得一个高达200 MHz的数字波形或在同一针脚上，以 1% 误差率执行 DC 参数测量，从而简化布线，减少测试时间和提高直流参数测试仪的测量密度。此外，其内置的时序校准功能可自动调整时序，帮助工程师们消除不同连线与线路长度所造成的时序偏移，。NI PXIe-6556可选择是否以其他精度更高的NI SMU切换，工程师可基于硬件或软件触发器，进而触发参数测量。

NI PXIe-4140/41 SMU模块可用于PXI Express插槽，提供多达4个SMU的通道，而4U的单一PXI机箱可提供多达68个SMU的通道,以轻松应对高针数设备的测试。高达每秒600,000样本的采样率，工程师们可以大大减少测量时间，或获取设备重要的瞬态特性。此外，NI PXIe-4141具备新一代的SourceAdapt技术，工程师们可根据任何给定的负载自定义调整SMU输出，以实现最大的稳定性和最小的瞬态倍。传统SMU技术无法提供此功能。

结合使用NI LabVIEW系统设计软件，这些新PPMU和SMU模块为半导体测试提供了模块化的软件定义测量方式，从而提高质量，降低成本并减少整个测试验证，特性研究和生产的时间。 LabVIEW具有灵活性编程语言与先进的工程工具的力量，使工程师能够满足特定、定制化的要求。

了解更多关于产品的信息请访问www.ni.com/lp/semiconductor

关于PXI

PXI (PCI eXtensions for Instrumentation，面向仪器系统的PCI扩展) 作为由PXI系统联盟（PXI Systems Alliance，www.pxisa.org）所管理的开放式的工业标准，是一种坚固的基于CompactPCI技术的测试、测量和控制平台。它的开放式构架、灵活性的PC 技术以及它的成本优势为测量和自动化行业带来一场翻天覆地的革命。自1997年PXI规范完成开发以来，如今已经有超过70个生产商支持，并提供了超过 1500款PXI产品。时至今日，PXI 已经成为当今测试、测量和自动化应用的标准平台，PXI的应用也已经触及到各行各业的诸多领域。通过融合高带宽的PCI Express 技术，全新的PXI Express 总线更是为测试测量行业开辟了全新的应用空间。更多信息请访问ni.com/china/pxi。

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