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日本精工电子子公司开发可高速检测出锂电池内微小金属异物的装置 |
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| http://cn.newmaker.com
9/1/2011 8:58:00 AM
日经BP社
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 日本精工电子（SII）的全资子公司、从事测量分析装置生产与销售的SII纳米科技（SII NanoTechnology，总部千叶市），开发出了可检测出混入锂（Li）离子充电电池及燃料电池电极中的20μm级微小金属异物的X射线异物检查装置。该装置融X射线金属异物检测与萤光X射线元素分析两种技术于一体，可将20μm左右的微小金属异物在数分钟内检测出，还能自动进行元素分析。
该装置通过采用最新的X射线管、检测器及新型图像处理技术，大幅缩短了摄像时间。据SII纳米科技介绍，检测时间还不到原来的1/100。检测到金属异物后，可自动采用萤光X射线法对其进行元素分析。20μm左右金属异物的元素鉴别速度，因配备自主开发的高亮度X射线光学系统而比原来提高了约10倍。
该装置的使用方法简单，只需将作为样本的电极板、隔膜以及放置在容器内的活性物质放入，并选择执行检查程序即可。从由拍摄到的X射线透视图像检测出金属异物、到对检出异物的元素分析均为自动处理，并可输出样本中的金属异物个数、异物的成分与大小以及显微镜观察图像等分析结果。因无需进行预处理即可自动检查，因此任何人都能轻松使用。
锂离子充电电池及燃料电池的金属异物混入，是导致电池成品率降低及寿命缩短的原因。尤其是近年来需求不断高涨的锂离子充电电池，可能会因为发热而导致起火事故，因此防止金属异物混入的对策变得越来越重要。金属异物的混入途径较多，会经由活性物质及隔膜等材料，还会在涂布等生产工艺中混入。以往采用的故障分析方法是拆开电池，利用X射线透射检查装置或显微镜找出金属异物，再用扫描电子显微镜或萤光X射线分析装置鉴别出异物的元素，再推测出混入途径，但存在很难检测出50μm以下的金属异物，而且检测需时较长的问题。
另外，SII纳米科技将在2011年9月7～9日于千叶县举行的“分析展暨科学设备展2011”上展出试制品。（记者：吉田 胜）
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