 具有高分辨率和新型成像软件
2011年5月12日. — GE检测控制技术宣布最新推出的新型 phoenix x|aminer 是一个微焦点X射线检测系统，有5个轴，主要用于电子元件分装的质量控制，主要适用于焊点的可靠精确检测。phoenix x|aminer 的特点是具有2M像素的高分辨率和高放大率。除此之外， 强大的成像软件更具人性化设计，使用鼠标键盘操作，精确又简单。
正如GE phoenix 电子检测行业的产品经理Tobias Neubrand所说,，“电子元件分装的可靠性主要依赖于焊点质量，而现在的制造技术中，许多焊点不可直接用肉眼看到。x|aminer 是电子元件分装检测的最新产品，提供可靠的缺陷识别，大型电路板组装的自动化检测等技术。”
新系统一大重要的设计特点是ovhm（高放大率倾斜检测）模块，倾斜角度高达70°,总体放大倍率几乎没有任何下降，高于23,000x倍。这确保了在垂直方向上提供最佳质量的缺陷信息。开放式160kV的微焦点射线管易于维护，其阴极易于更换，从而保证了使用寿命。而20W的管功率可以穿透某些对射线具有高吸收性的组件。
新型x|aminer 采用新进推出的 phoenix x|act 软件，专为电子行业检测所设计。简单的宏观记录使其能对位置和图像等参数对检测任务进行直观的编程，只要单击鼠标就能保存所有的显示设置。自动生成导航图功能可用于同类电路板的检测，即使当旋转和翻转工件时，自动图像增强功能仍可提供高质量的实时图像，从而确保缺陷检测的高成功率。
“在电子产品制造领域，快捷可靠的交付变得日益重要，” GE检测控制技术中国区(X射线检测系统销售总经理孔凡琴博士说到：“鉴于此，我们决定使用通过ISO认证的GE国内工厂进行phoenix x|aminer的最终生产。产品在中国制造，所有的核心组件如射线管、高压发生器、软件和图像链均来自德国，这使得我们更加接近我们重要的亚洲客户群。”
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