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电子元器件及材料 |
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德仪器解决65纳米漏电问题 |
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| http://cn.newmaker.com
9/26/2005 10:41:00 AM
佳工机电网
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德州仪器近日宣布可利用通过实际产品的严格考验的SmartReflex功耗与效能管理技术，有效解决65纳米移动元件的漏电问题，其效果胜过传统的元件功耗管理技术上。
德州仪器介绍，SmartReflex技术结合智慧型和适应性硅片、电路设计与软件，可解决先进半导体制程的功耗与效能管理问题，并协助OEM厂商提供体积精巧、电池寿命长且散热更少的多媒体移动装置。此外，SmartReflex技术采用涵盖元件设计到系统软件等所有层面的系统方法，既可确保元件效能，又能有效解决移动装置的功耗问题。
TI首先将SmartReflex技术用于90纳米制程，随后又将这套先进技术解决方案用于65纳米产品；目前已有一亿多台移动装置采用SmartReflex技术发展的元件。
据悉TI正将此技术用于OMAP 2系列应用处理器，未来还会在无线产品中采用更先进的SmartReflex技术。
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