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Inovys推用于自动测试设备的软件分析工具

http://cn.newmaker.com 9/6/2005 1:54:00 PM 佳工机电网

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展厅 6	电子测量仪器展厅万用表, 示波器, 电子测试仪器, 信号发生器, 信号分析仪, ...

自动测试设备供应商Inovys推出一种软件分析工具，可提高芯片产量，缩短生产周期。该工具名为FlopPlot WaferView，可与该公司用于ATE的Ocelot ZFP一起使用。它在半导体测试中测量并映射所有器件性能层，有助于发现并解决设计或工艺的扩展空间。

WaferView还可以在IC测试中收集多个晶圆的性能数据。性能问题可根据晶圆、电子设计元件或各种情况的物理位置进行分类，从而提高了统计过程控制功能，从而在工艺出现问题时及早报警。

由于半导体器件已经开始用90nm和65nm以下的高级技术开始设计，从而在发现并诊断故障方面提出了挑战，这些性能直接关系到批量生产的时间。

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