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新型测试技术使射频识别标签的测试流水线化 |
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| http://cn.newmaker.com
5/23/2008 10:26:00 AM
电子工程专辑
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当前的射频识别(RFID)标签测试方法对大量的仓库和货架上的标签是一个负担，因为当前的测试方法需要对每一个标签独立调谐，因此测试流水线化可以获得更快的原型设计时间，乔治亚工学院的工程师们最近设计了一种新的测试机，可以在新标签芯片仿真的时候同时测试数百个RFID标签。
乔治亚电气和计算机学校的Gregory Durgin教授宣称“我们设计了一种超灵活的系统，能够允许改变调制方法，载波频率，射频标签配置，天线类型――任何可以使工程师获得更大范围和灵活性的系统性能参数，一些公司已与我们合作运用这一测试机来测试新的天线标签，并利用这些新的传感器性能来刷新现有的RFID标签。”
RFID标签运用十分广泛，从存货管理到收费系统到护照识别再到行李跟踪。而大部分的标签都只是被动式的，包含一个芯片，一个能够接收无信电信号的天线给附近的读卡机提供身份识别。
RFID标签测试的最大的问题是测试量――仓库和商店货架往往包含读卡机范围内的上百种标签，很多标签隐藏在其他标签的后面，当这些标签都在读卡机范围内的时候，通常的协议是先响应最强信号的标签，识别后让它休眠再处理下一个最强信号，这一系列过程很耗时。
然而，乔治亚测试机运用了一种防干扰系统能够同时传输若干独立信号，这个系统允许256个标签同时被访问，而不是要求读卡机依次访问各个标签，乔治亚测试机可以与400平方英尺内的RFID标签通信，同时收集标签信息，该系统还能实时追踪它们的信号强度。
Durgin 说“我们有一个自动机械配置系统可以自动调整标签的距离，这样我们可以研究空间变化和链接衰减的特征。”
用新天线设计测试RFID标签也有一个新问题，需要新的RFID标签的物理原型用来测试天线，往往也需要昂贵的ASIC设计。为解决这一问题，乔治亚的团队发明了一种替代品来替代新标签设计里的ASIC，从而使这种新的天线能够很快被测试。
Durgin 说“我们用传统的发收器硬件来产生和接收任意波形，这样我们能迅速的测试独立的天线配置和若干天线，而不需要为每一个实验创立新的标签。同时，我们用定制的微波电路来模拟ASIC，用它可以模拟任意载频和任意调制方法的真实的RFID标签，甚至是全新的设计”
目前测试机仅限于915MHz的测试，这也是被动式RFID应用的最常用的频率，但目前已被更新至2.4- 5.7-GHz。这些更高的频率将使标签可以用更小的天线实现更广泛的操作范围。
乔治亚RFID测试机由国家科学基金会赞助。乔治亚工学院工程学研究生Anil Rohatgi 和 Joshua Griffin主导这项研究。
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