佳工机电网 在线工博会 我的佳工网 手机版 English
关键字  
  选择展区 >>
您的位置: 首页 > 电子元器件及材料展区 > > 新闻 > 正文 产品 会展 人才 帮助 | 注册 登录  
电子元器件及材料
 按行业筛选
 按产品筛选
本产品全部新闻


技术动态  投稿 发布新闻
市场动态  |  企业新闻  |  技术动态  |  培训信息  |  新闻评论
DAC:IC功率及泄露问题需在系统级解决
http://cn.newmaker.com 6/30/2005 11:20:00 PM  佳工机电网
日前参加在美国加州举行设计自动化研讨会(DAC)小组讨论的EDA和半导体公司的工程师们指出,IC功耗和泄露问题需在设计初期和系统级得到解决。

IBM公司高级工程师Paul Zuchowski将解决功耗问题形容为许多小型战斗,而不是一场大规模的战役。他补充说,设计师无法在晶体管级完全解决功率问题,但需要退后一步,通过在系统级进行权衡以解决该问题。他表示:“在整个设计流程我们都需要应对功率问题”

Artisan Components公司前高级架构师、目前任职ARM的Rob Aiken表示,当前的功率分析方法论已不合时宜,因为它们着重最坏情况分析。他指出,芯片功率泄露变数很大,具体取决于设计复杂性——在速度极速的器件内功率泄露可达总体功耗的50%,而在不太复杂的芯片内就明显较低。

Apache Design Solutions公司执行长Andrew Yang也指出:“在设计流程较早期和较高抽象级解决功率问题很重要。”Yang表示,主流EDA供应商建议并提供的集成流程内解决方案只能避免问题发生,但不能解决问题。

Nascentric总裁兼CEO Vess Johnson对此表示同意。他指出,现有的设计流程无法处理功率管理技术。

发表评论】【新闻评论】【论坛】【收藏此页
更多有关电子元器件及材料的新闻:
·[图]Socionext发布最新一代智能显示控制器,使用了Inova半导体APIX3技术 3/22/2021
·[图]雷莫(LEMO)的HALO LED连接器拥有三种不同的设计 2/9/2019
·[图]新型45V零漂移运算放大器提供超高精度和EMI滤波 1/16/2019
·隆达电子开发出全国第一片6吋LED晶粒制程圆片 12/29/2010
·泰科继电器额定接触电流高达500Adc 6/24/2005
·OSRAM将红外LED扩展至不可见光谱范围 6/24/2005
·美欧研究以塑料制造半导体芯片 6/23/2005
·首款激光鼠标传感器定位精度达2,000cpi 6/22/2005
·TI推出兼容型、非隔离式插入电源模块 6/22/2005
·Endicott高性能逆变器适合工业LCD背光应用 6/20/2005
查看与本新闻相关目录:

对 电子元器件及材料 有何见解?请到
电子元器件及材料论坛 畅所欲言吧!





网站简介 | 企业会员服务 | 广告服务 | 服务条款 | English | Showsbee | 会员登录  
© 1999-2024 newmaker.com. 佳工机电网·嘉工科技