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StarLite非接触式测量系统
http://cn.newmaker.com 9/7/2007 4:19:00 PM  佳工机电网
StarLite非接触式测量系统RAM光学仪器公司开发的StarLite非接触式测量系统结构紧凑,内置有电子聚焦、机动光学聚焦装置和高分辨率彩色相机。系统的X、Y、Z量程为952×76×127(mm),适合相应尺寸工件和工具的非接触检测。仪器的底座和立柱采用铸铝结构。光学测量部分采用VectorLight高保真白光LED和背光照明,可达到最佳成像效果。仪器的标准配置包括分辨率为1µm的直线刻度尺、粗/精调手动定位工作台,可选配置包括十字线光学瞄准、工件边缘电子检测和聚焦指示器。

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