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光学仪器 |
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高精度实现几何元素与轮廓外形的测量 |
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| http://cn.newmaker.com
3/21/2005 11:12:00 PM
GLOBAL
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 在业界享有广泛声誉的GLOBAL系列测量机，日前又增加了一项新的配备：LEITZ的高精度扫描测头LSP-X5，作为一种新的产品系列GLOBAL ADVANTAGE日前正式推向市场。
LSP-X5 采用固定式模拟扫描测头，专为高速、高精度坐标测量机而设计的。该三维测头系统在每个轴由高精度的LVDT（线性可变微分传感器）组成。水平方向测头加长杆最高可达500mm，因此对于工件深处的特征可能完成测量。具有集成的重力自动平衡系统，可携带重达500g 的测针和加长杆。探测模式包括单点触发测量、自定中心和高速扫描，可完成各种复杂的测量任务，包括轮廓和外形的扫描。通过具备高重复性的探针吸盘,测头组合可实现快速更换，而不需要重新校正。像所有LEITZ 测头一样，在测量每一点时，LSP-X5 不需锁定任一轴，因此测针的探测力总是垂直于测量表面，因此可对任何测针偏差进行正确补偿。
基于LSP-X5独特的性能及构成，具有以下优势：高精度，即便对于很长的加长杆和探针，也可保持高精度；集成温度补偿，为精密测量提供自动的工件温度补偿；集成防撞保护系统，在碰撞发生时，保护测头，因此可避免损失，并确保测量系统能够长时间正常运行；自动探针更换装置，在测量程序运行中，自动更换测头，且无需重新校准。
配备高精度测头LSP-X5的GLOBAL PERFORMANCE系列测量机，行程范围从900mmX900mmX665mm直到1500mmX3300mmX1255mm，在标准温度范围内的长度允许示值误差最小可达1.5+L/333μm。将以其稳定优越的机器性能、高精度的扫描测头，满足用户对机器性能稳定、测量精度高、可选行程范围大的需求。
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