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通用分析仪器 |
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新型MorphologiG2高灵敏粒形分析系统面世 |
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| http://cn.newmaker.com
3/21/2007 11:36:00 PM
佳工机电网
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英国马尔文最近推出新型Morphologi G2 高灵敏粒形分析系统。该系统以数字图像分析和全自动显微方法为基础，专门用于测量颗粒大小和颗粒形态。
利用最新发展的Nikon CFI 60光学系统，和具有FireWire接口的高分辨率，高像素密度数字照相机，Morphologi G2提供了具有超高质量的无像差图像。
Morphologi G2 粒形分析系统用于以下测量：
粒度分布：利用不同的放大倍数确保整个粒度测量范围内(0.5—micro;m – 3000—micro;m)的高分辨率。该粒形分析系统采用等效圆直径参数准确测定颗粒粒径。
颗粒形态：测定一系列颗粒形状参数，包括计算延伸度，圆度和凸起度。
颗粒计数和杂质粒子检测：因为在该粒形分析系统中每个样品颗粒都可以被单独测量和记录的，因此，它可以计算确定的颗粒类型，例如，专门检测杂质粒子。
Morphologi G2 颗粒形态分析系统提供了显微镜质量的图像和有效统计直方图，它使用户得到两个最佳的境界----定性粒形分析和定量粒形分析。
Morphologi G2 粒形分析系统:
统计显著性: 分析100级上万个颗粒只需轻点鼠标一次!
无主观偏差：标准操作规程（SOP）将所有仪器变量（焦距，光强，放大倍数等）都客观记录下来并控制。在一台仪器上的方法开发能通过单一文件电子传送至全球。
高质量图像保存：观察和记录每一个单个颗粒图像的能力使仪器能够对某些现象进行视觉确认，如存在破碎粒子，团聚，细粉，杂质颗粒等。
准确的，可重复的和“可确证的”：在每次颗粒分析前后，用一个可溯源至NPL（美国国家物理实验室）的多段光栅对系统进行自动校正以保证数据的完整性。该粒形分析系统符合21CFR part 11标准并可进行全套IQ/OQ 文件认证。
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