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研究人员揭示硅半导体表面新特征
http://cn.newmaker.com 6/22/2006 10:01:00 AM  佳工机电网
教育部科技发展中心网2006年6月20日报道 硅半导体是现代电子技术中极其重要的组成部分。随着硅器件被做得越来越小,电子器件的功能越来越强大。但是,虽然计算机技术已经发展得非常成熟了,但是人们对半导体的纳米结构的研究才刚刚起步。目前对半导体材料重要的基础研究正在处于飞速发展时期。
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美国威斯康星-麦迪逊大学的一个研究小组近日发现了硅表面结构的一个非常有用的信息。研究人员们在同步辐射中心(SRC)上检验了Si(111)的非常奇特的7×7表面结构,这是一种最稳定的硅表面结构。
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研究人员Ingo Barke说:“因为在小尺度上材料面积与体积的比例变得很大,所以在今天的硅元件中,材料表面和界面性质对整个材料的性质起到很重要的作用。但是这种二维结构很难研究。我们用SRC发现了半导体的一个目前还未被发现的特性。”他与同事们最近的这项研究发表在6月2日的《Physical Review Letters》杂志上。
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Barke说:“我们的结果揭示了一种非常奇特的表面能带结构,它能用电子-声子相互作用机制很好的解释。声子是原子的振动。原子核外的轨道电子能够感应到表面原子的振动,然后通过某些独特的方式改变它们自身的运动。我们的工作把两个被广泛研究的领域联系起来了:引起传统半导体性质的电子-声子相互作用和对电子元件与半导体技术非常重要的半导体表面性质。”
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虽然在金属表面已经有过类似的研究,但是最近的这次研究还是首次在半导体表面进行的。Barke说:“电子-声子相互作用本身具有非常高的科学和应用价值。我们的最终目标是要实现根据需要设计不同的半导体表面。”

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