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我国纳米测控技术突破瓶颈 |
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| http://cn.newmaker.com
3/5/2006 9:55:00 PM
中国科学院纳米科技网
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计量技术一直是制约我国制造业发展及新材料研制的“瓶颈”之一，纳米测长仪和量块快速检测仪的研制成功将有望解决这一难题。这两项由中国青旅实业发展有限公司所属标普纳米测控技术有限公司的科研人员推出的科技成果日前已正式通过专家鉴定。
由中国工程院院士金国藩、周勤之、姚骏恩以及１１位专家组成的鉴定委员会认为，这两项科技成果是我国在纳米测控技术方面取得的突破性进展，在主要技术指标上都处于国际领先水平，对推动精密计量仪器的升级换代具有重要意义，推广应用前景广阔。
“纳米测长仪”是一种可以精确测量纳米量级的“尺子”，这种通用长度传感器已经从静态人工读数发展到数字化自动显示。其数显分辨率达到１纳米，测量重复性标准偏差仅为０．８～１．２纳米。
“量块快速检测仪”是一种新型的量块检测仪器，它成功地将纳米测长仪应用到量块检测上，将直接测量与比较测量结合起来，对名义尺寸１０毫米及１０毫米以下的量块实现了直接测量，分辨率也达到了１纳米。专家介绍说，该项成果在纳米光栅的制造与检测、纳米光栅的信号读取、光电信号的高质量处理和超精机构的加工改进上均具有独创性。
标普纳米测控技术有限公司是目前国内惟一专业从事微米、纳米光电测控技术及相关产品开发与研制的企业，已开发出１１大系列１００多个型号品种的产品，产品远销美国、澳大利亚、日本、芬兰等工业发达国家。
据中国青旅实业发展有限公司董事长伞翔宇透露，标普纳米测控技术有限公司具有世界一流水平的纳米检测中心也正在建设中，它的建成将为纳米技术特别是纳米测控技术的研究提供更为理想的生产、试验场所。
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