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Altair与LG电子携手，将智能手机跌落测试仿真时间从数周削减至24小时之内 |
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| http://cn.newmaker.com
12/20/2013 2:58:00 PM
佳工机电网
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2013年12月11日，TROY（美国密歇根州）——Altair今日宣布在电子行业取得了重大突破，不仅可帮助工程师们打造更多经久耐用型设计方案，还有望显著加快新型智能手机、平板电脑、家用电器及其他消费电子产品的开发步伐。
Altair与韩国LG电子(LGE)强强联合，成功开发出了一款无缝集成式跌落测试仿真流程自动化系统。以往，智能手机行业内的大型公司通常需要一到两周才能完成智能手机跌落测试仿真，而凭借此系统，LGE工程师仅需不到24小时即可轻松完成仿真。
借助Altair的HyperWorks计算机辅助工程工具套件（包括专用于前处理的HyperMesh、RADIOSS求解器、HyperView后处理器及其嵌入式自动化架构），Altair-LGE团队将多项与有限元建模、分析设置和后处理相关的耗时手动任务进行了自动化处理，为进行跌落测试仿真打开了方便之门。
“Altair和LGE在该跌落测试仿真自动化系统上的合作，不仅为LGE赢得了更强的竞争力，还拓宽了耐用型产品的多样性，加快了其上市速度。”Altair全球电子与消费品部高级总监Molly Heskitt说道，“这一自动化系统使得电子行业中三大难题迎刃而解：上市时间、创新与成本。该系统在缩短产品开发时间、降低开发和保修成本的同时，也为产品设计预留了更加充足的空间，从而能打造出更棒的手机。”
工程师们可以使用跌落测试仿真自动化系统节省出的大量时间来探索更多设备设计的可能性，进而不断超越、不断创新。LGE已将跌落测试仿真流程自动化系统应用于当前的智能手机设计中，并计划在今后的智能手机上也使用该系统，与此同时，Altair的OptiStruct工具也在手机设计的优化中得到了施展，实现了成本与可靠性的双重掌控。
由于现在可以对各种冲击情况快速进行模拟与测试，LGE相信其保修成本会得到大幅削减，因为智能手机经优化后，在跌落之后不易损坏。
“在智能手机行业内，当务之急便是如何加快产品的上市速度，”LGE研究员Y.H Lee表示，“而很多公司在分秒必争的产品开发周期内根本无暇权衡太多的设计方案。跌落测试仿真的常规周期7至14天已不能满足当今市场发展的要求。如今，通过与Altair联手，我们能够将跌落测试所需时间从数周削减至数小时。”
Altair预测，在其他类型消费电子产品的设计之中，该自动化跌落测试仿真流程将同样大有用武之地。
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