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[图]英国Elcometer新推数字化快速测厚仪Elcometer 456
3/21/2011
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TVLF超低平瞬变探地仪样机在右江矿务局投入使用
3/10/2011
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[图]伊斯拉视像将在Chinaplas 2011展示表面检测最新技术
3/3/2011
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[图]日本开发出红外线夜视彩色成像新技术
2/14/2011
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欧姆龙在线型印刷基板检查装置采用X射线CT技术
1/20/2011
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GE推出新版X射线检测软件x|act
1/1/2011
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维视图像推出基于机器视觉技术平整度检测系统
1/1/2011
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[图]日本Lasertec上市高分辨率光学式检测装置WASAVI系列LP300
11/30/2010
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GE 3D测量技术XLG3给航空航天检测带来重大突破
11/24/2010
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[图]GE检测控制技术推出了DSM go ---具有高性能和灵活性的新型测厚仪
11/24/2010
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[图]豪迈水管理公司推出新型触屏式传感器的漏水相关仪
11/10/2010
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中国石油储罐在线检测技术国际领先
11/4/2010
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西安金波开发出新型激光超声波可视化检测仪
11/3/2010
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[图]SPI ENGINEERING参考展出支持高清的工业内窥镜
11/3/2010
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GE:3D测量技术给航空航天检测带来突破
9/30/2010
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[图]NEC Avio红外线技术上市新款轻型红外线热像仪
8/14/2010
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康耐视推出新型表面检验软件VisionPro® Surface
6/24/2010
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申克博士为塑料卷材工业提供自动光学检测方案
5/6/2010
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梅特勒-托利多推出两个全新的X射线检测解决方案
2/9/2010
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[图]日本NEC Avio上市用于设备保养维修作业的红外线热像仪
1/27/2010
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TOFD超声波衍射声时差法技术在太重集团成功得到应用
1/5/2010
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[图]欧普士荣誉推出本征安全型产品:MS-IS、MS+-IS
12/31/2009
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欧普士展示在红外测温领域取得的技术创新
12/31/2009
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[图]Tritech推出Gemini多束海底成像声纳
12/8/2009
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赛默飞世尔科技推出突破性金属探测器技术
11/17/2009
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[图]美国研究机构用超材料开发出声波双曲聚焦镜
10/28/2009
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[图]日本开发出可利用太赫兹电磁波观看检测对象内部的装置
9/28/2009
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[图]福禄克发布热像仪新产品Ti32/TiR32
9/24/2009
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[图]GE推出仅1公斤重的通用超声探伤仪USM Go
9/19/2009
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[图]德图重磅推出新一代红外热成像仪testo 875和testo 881
9/14/2009
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康耐视推出用于太阳能电池检测的新型视觉工具
8/25/2009
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S+S将在Drinktec展示金属检测及金属分离设备
8/14/2009
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[图]Metris Inspect-X 1.6 doubles CT reconstruction speed
8/9/2009
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电磁超声波新技术确保西二线钢管质量
7/2/2009
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[图]Agr introduces the OptiCheck™ vision inspection and gauging system
6/30/2009
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让复杂的事情变得更简单--ADC软件帮您优化金属探测器的性能
6/25/2009
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[图]ITES开发出1/3价格的太阳能电池用EL图像检测装置
6/23/2009
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[图]韩国高永展出底板封装生产线使用的3维外观检查装置
6/8/2009
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日研制出太赫兹成像设备 检查可疑邮包
5/26/2009
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[图]Metris rotating reflection target sets new productivity and performance standards for industrial CT
5/25/2009
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[图]德图红外测温仪为防控甲型H1N1流感筑起防护墙
5/12/2009
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国内首套钢板自动探伤系统在重钢投入使用
4/29/2009
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[图]可对孔径粗糙度进行自动化检验的视频系统
4/22/2009
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自动光学检测(Automatic Optic Inspection AOI)技术发展迅速
2/7/2009
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便于精确分类的快速塑料表面检查系统
1/13/2009
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[图]速度出众的Axios FAST型同步X-射线荧光分光计
1/13/2009
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凌云光视独家推出“REVIEW”高效标签检测解决方案
1/7/2009
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日本开发出利用有机FET等试制出超声波摄像元件薄膜
12/21/2008
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Metris integrates SpecMetrix coating thickness measurement technology within iSpace system for inspection of aerospace coatings
11/22/2008
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[图]日本产综研开发出涂层隐藏缺陷可视化技术
11/19/2008
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